无损，同时分析72种无机元素从钠到铀
质子诱导x射线发射(PIXE)是一种测定元素样品的组成。这种方法是基于目标元素在质子照射后发射特征x射线。x射线光谱是由高能质子激发目标原子的内壳层电子，在内壳层留下空位而引发的，当产生的空位被填满时，x射线就产生了。由于x射线是其起源元素的特征，不同元素的特征x射线几乎没有重叠，同时检测复杂的多元素样品是可能的。
PIXE具有以下优点:
- 灵敏度高(薄箔检测限~ 1ppm，厚样品检测限~ 10ppm)
- 可能在大气压下测量(通过允许光束通过一个薄窗口从光束线出口，可以在空气中分析大样本)。
- 多元素分析能力(在单一光谱中对从钠到铀的任何元素进行主要元素分析)
- 无损(梁对试件的诱导效应最小)
- 表面敏感法(典型分析深度为1 μ m量级)
