导航表面成分与化学映射!
当摆姿势的时候需要表面敏感质谱法、飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS)是值得信赖的选择!初级离子轰击样品的表面，导致二次离子的产生。这些离子只产生于样品表面的前几层单分子层。这些特征质量碎片的质谱鉴定允许成分鉴定(高达400Da)与质量精度高．用离子束轰击表面，提供不同采样地点的化学图像。化学成分现在可以映射通过样品的表面或横截面，使其成为您的首要，而不是次要的表面分析选择!
- 识别表面涂覆聚合物添加剂
- 粘合缺陷
- 正负离子模式下的痕量元件检测
- 筛选成分表面差异
- 横截面分析
